1.     才田 大輔,高橋 琢二,江面 知彦,筒井 謙,和田 恭雄:
「磁気力顕微鏡を利用した電流誘起磁場測定における電流定量評価の可能性」
日本応用磁気学会論文誌,30233-236 (2006).

2.     才田 大輔,高橋 琢二,江面 知彦,筒井 謙,和田 恭雄:
「磁気力顕微鏡を利用した電流誘起磁場測定系の空間分解能の評価」
日本応用磁気学会誌,29306-309 (2005).

3.     才田 大輔,高橋 琢二
「磁気力顕微鏡による電流路周囲の磁場勾配検出」
日本応用磁気学会誌,28417-420 (2004).

4.     才田 大輔,高橋 琢二
「交流電流が作るGaAs/AlGaAsメサストライプ周辺磁界の磁気力顕微鏡観察」
電子情報通信学会論文誌C,J86204-205 (2003).

5.     高橋 琢二,小野 志亜之:
KFMによるGaAs(110)面上InAs薄膜表面のポテンシャル計測」
表面科学,22309-314 (2001).

6.     高橋 琢二
「自己形成InAsドットで覆われたGaAs表面の電子状態」
表面科学,19588-592 (1998).

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Copyright 2011 Takahashi Lab., Institute of Industrial Science, University of Tokyo
研究内容  1 International Journal   
 2 International Conference
 3 国内学会誌
 4 国内学会・研究会
 国内学会誌